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產(chǎn)品中心光學(xué)測量儀器顯微OCT掃頻測振/磁光克爾
product
產(chǎn)品分類
掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析（顯微OCT）） 掃描開爾文探頭可以測量 CPD（接觸電位差）值，評(píng)估半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)。測量不僅可以在樣品表面的單點(diǎn)進(jìn)行，還可以對(duì)整個(gè)表面進(jìn)行掃描。 功函數(shù)測量在半導(dǎo)體物理學(xué)中te別有用，因?yàn)樗峁┝吮粶y材料費(fèi)米級(jí)的位置。
更新時(shí)間：2025-11-11
產(chǎn)品型號(hào)：
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FS70L-TH 用于半導(dǎo)體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點(diǎn) 采用Mitutoyo遠(yuǎn)場校正鏡頭 三端輸出設(shè)計(jì)可輕松接收視頻 轉(zhuǎn)盤可接最多四個(gè)物鏡
更新時(shí)間：2024-12-05產(chǎn)品型號(hào)：FS70L4-TH瀏覽量：1427