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BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
更新時間：2024-12-08
產品型號：BladeCam2-HR-1310
瀏覽量：1453
BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
更新時間：2024-12-08產品型號：BeamOn U3-E瀏覽量：1410
國產光束質量分析儀Beam 1550 筱曉自主研發國產光束質量分析儀Beam VIS/Beam 1550，默認波長范圍190-1150nm。具有高分辨率，這款分析儀小巧輕便，便于安裝在狹小和封閉環境中。
更新時間：2025-09-25產品型號：Beam 1550.瀏覽量：1284
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產品總覽 BeamOn U3是一種光束測量系統是一種光束測量系統，用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統是用于連續或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統。
更新時間：2024-12-06產品型號：BeamOn U3-E瀏覽量：2612
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm 應用領域 連續和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄
更新時間：2024-12-06產品型號：TaperCamD-LCM.瀏覽量：1546
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